18971121198
當前位置：首頁 > 技術文章 > MC方案｜單層石墨烯厚度的測量
光學膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：
半導體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……
FR-pRo系列
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部
歡迎來到邁可諾技術有限公司網站！歡迎來到邁可諾技術有限公司網站！
聯系人：鄧經理
地址：洪山區珞獅南路147號未來城A棟
郵箱：
傳真：